Sensore per usi particolari HD-T1

Sensore di allineamento wafer a LED.

Sensore di allineamento wafer a LED

La serie HD-T1 comprende un nuovo sensore di allineamento wafer. L'uso di un fascio di luce LED sicuro permette ora un rilevamento di alta precisione con una risoluzione di 30µm. Il sensore è il più adatto per rilevare l'eccentricità del wafer, gli incavi e marcature del senso di rotazione. Utilizzando la metodologia del sensore d'immagine lineare e la tecnologia di campionamento ad alta velocità, è possibile misurare ora un'ampia varietà di oggetti in modo stabile con grande precisione a velocità ultra-elevate. Questo sensore di stile CCD è sviluppato per l'utilizzo in quasi tutti i campi dell'industria, per esempio la produzione di pneumatici o la produzione di semiconduttori (circuiti stampati su wafer).

Caratteristiche: 

  • Non sono richieste misure di sicurezza
  • Elevata risoluzione di 30µm
  • Semplice installazione
  • Non occorre un allineamento fascio-asse
  • Basso consumo di corrente, pari a 70mA o inferiore
  • Le funzioni di regolazione per guadagno e scostamento sono state incorporate

Caratteristiche tecniche

  HD-T1030 HD-T1C
Tipo di sensore Sensori per usi particolari
Ampiezza di rilevamento 30mm -
Campo di rilevamento 30mm -
Classe di inquinamento 3 (ambiente industriale)
Temperatura ambiente Da 0 a + 40°C da 0 a + 40°C
Umidità ambiente dal 35 al 85% UR
Illuminazione ambiente 3.000lx -
Elemento emettitore LED rosso 650nm -
Tensione di alimentazione - 24V DC ±10%
Consumo di corrente - max. 70mA
Tempo di risposta - 0,5ms
Risoluzione - 30µm
Linearità - ±1,0% del valore di fondo scala
Materiale Scatola: Coperchio frontale PEI: vetro Base di montaggio: alluminio Plastica
Cavo 0,5m -
Peso (circa) 150g 85g

Applicazione

  • Rilevamento di eccentricità o tacche su wafer

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PDF HD-T1 3D Data CAD 188 KB 26.07.2023 Other
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PDF HD-T1030, HD-T1C Instruction Manual, CMJE-HDT1 Manual 680 KB 30.10.2024 English,Japanese
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